ZH30103-A50-B13-C11-D03-E01軸位移探頭 安徽萬(wàn)宇電氣

ZH30103-A50-B13-C11-D03-E01軸位移探頭 安徽萬(wàn)宇電氣

一、CPU反常

CPU反常報(bào)警時(shí)，應(yīng)查看CPU單元銜接于內(nèi)部總線上的一切器材。具體方法是順次替換可能存在問(wèn)題的單元，找出問(wèn)題單元，并作相應(yīng)處理。

二、存儲(chǔ)器反常

存儲(chǔ)器反常報(bào)警時(shí)，如果是程序存儲(chǔ)器的問(wèn)題，經(jīng)過(guò)從頭編程后還是無(wú)法解決，這種狀況可能是噪聲的攪擾引起程序的改變，否則應(yīng)替換存儲(chǔ)器。

三、輸入/輸出單元反常、擴(kuò)展單元反常

發(fā)作這類(lèi)報(bào)警時(shí)，應(yīng)*要查看輸入/輸出單元和擴(kuò)展單元銜接器銜接狀況、電纜銜接狀況，斷定問(wèn)題發(fā)作的某單元之后，再替換單元。

四、不執(zhí)行程序

一般狀況下可依照輸入——程序執(zhí)行情況——輸出的過(guò)程進(jìn)行查看

(1)輸入查看是運(yùn)用輸入LED指示燈辨認(rèn)，或用寫(xiě)入器構(gòu)成的輸入監(jiān)視器查看。當(dāng)輸入LED不亮?xí)r，可開(kāi)始斷定是外部輸入體系問(wèn)題，再配合萬(wàn)用表查看。如果輸出電壓不正常，就可斷定是輸入單元問(wèn)題。當(dāng)LED亮而內(nèi)部監(jiān)視器無(wú)顯現(xiàn)時(shí)，則可認(rèn)為是輸入單元、CPU單元或擴(kuò)展單元的問(wèn)題。

(2)程序進(jìn)行查看是經(jīng)過(guò)寫(xiě)入器上的監(jiān)視器查看。當(dāng)梯形圖的接點(diǎn)狀況與成果不*時(shí)，則是程序錯(cuò)誤(例如內(nèi)部繼電器兩層運(yùn)用等),或是運(yùn)算部分出現(xiàn)問(wèn)題。

(3)輸出查看可用輸出LED指示燈辨認(rèn)。當(dāng)運(yùn)算成果正確而輸出LED指示錯(cuò)誤時(shí)，則可認(rèn)為是CPU單元、I/O接口單元的問(wèn)題。當(dāng)輸出LED是亮的而無(wú)輸出，則可判別是輸出單元問(wèn)題，或是外部負(fù)載體系出現(xiàn)問(wèn)題。

由于PLC機(jī)型不同，I/O與LED銜接方法的不一樣(有的接于I/O單元接口上，有的接于I/O單元上)。所以，依據(jù)LED判別的問(wèn)題規(guī)模也有不同。

五、部分程序不執(zhí)行

檢查方法與前一項(xiàng)相同，但是，如果計(jì)數(shù)器、步進(jìn)控制器等的輸入時(shí)刻過(guò)短，則會(huì)呈現(xiàn)無(wú)呼應(yīng)問(wèn)題，這時(shí)應(yīng)該校驗(yàn)輸入時(shí)刻是否足夠大，校驗(yàn)可按輸入時(shí)刻（輸入單元的*大呼應(yīng)時(shí)刻+運(yùn)算掃描時(shí)刻乘以2）的聯(lián)系進(jìn)行。

六、電源短時(shí)掉電，程序內(nèi)容也會(huì)消失

(1)*先查看電池是否存在問(wèn)題。

(2)經(jīng)過(guò)反復(fù)通斷PLC本身電源來(lái)查看。為使微處理器正確啟動(dòng)，PLC中設(shè)有初使復(fù)位點(diǎn)電路和電源斷開(kāi)時(shí)的保存程序電路。這種電路發(fā)作問(wèn)題時(shí)，就不能保存程序。所以可用電源的通、斷進(jìn)行查看。

(3)如果在替換電池后依然呈現(xiàn)電池反常報(bào)警，就可判定是存儲(chǔ)器或是外部回路的漏電流異常增大所造成的。

(4)電源的通斷總是與機(jī)器體系同步發(fā)作，這時(shí)可查看機(jī)器體系發(fā)作的噪聲影響。由于電源的斷開(kāi)是常與機(jī)器體系工作同時(shí)出現(xiàn)的問(wèn)題，*大部分是因?yàn)殡姍C(jī)或繞組所發(fā)作的強(qiáng)噪聲所造成的。

七、PROM不能工作

先查看PROM連接是否良好，然后判斷是否需要替換芯片。

八、電源重啟或復(fù)位后，動(dòng)作停止

這種問(wèn)題可認(rèn)為是噪聲攪擾或PLC內(nèi)部接觸不良所造成的。噪聲原因一般都是電路板中小電容容量減小或元件功能不良所造成的，對(duì)接觸不良原因可經(jīng)過(guò)輕輕敲PLC機(jī)體進(jìn)行查看，還要查看電纜和銜接器的連接狀況。